Page 181 - 《含能材料》火工品技术合集 2015~2019
P. 181

µ!/¯]^<”•Ô/0128/ÉñBC                                                                             ６ ８ ７

             Ｍａｔｅｒｉａｌｓ（ＨａｎｎｅｎｇＣａｉｌｉａｏ），２０１２，２０（１）：９９－１０４．        ｎｅｎｔｓ，ｅｎｖｉｒｏｎｍｅｎｔａｌａｎｄｐｅｒｆｏｒｍａｎｃｅｔｅｓｔｓｆｏｒ［Ｓ］．２００５．
          ［５］)ì，A-€．”•Ô/01 2 Ð § 0 q & ［Ｊ］．0 1 2，２００７        ［１１］ＢｒｕｃｅＢｅｒｒｙＲ．Ｅｌｅｃｔｒｏｓｔａｔｉｃｄｉｓｃｈａｒｇｅｔｅｓｔｉｎｇｏｆｐｒｏｐｅｌｌａｎｔｓａｎｄ
             （４）：２６－３０．                                          ｐｒｉｍｅｒｓ［Ｒ］．ＳＡＮＤ－９２－２４１６·ＵＣ－７４２，１９９２．
             ＷＡＮＧ Ｐｅｎｇ，ＤＵ Ｚｈｉｍｉｎｇ．Ｔｈｅｒｍａｌｉｇｎｉｔｉｏｎｔｈｅｏｒｙｏｆｅｌｅｃｔｒｉｃ  ［１２］ＡｍｅｒｉｃａｎＮａｔｉｏｎａｌＳｔａｎｄａｒｄｓＩｎｓｔｉｔｕｔｅ．ＩＥＥＥＳｔｄ６２．４７－１９９２．
             ｈｏｔｗｉｒｅｉｎｉｔｉａｔｉｎｇｄｅｖｉｃｅｓ［Ｊ］．Ｉｎｉｔｉａｔｏｒｓ＆ Ｐｙｒｏｔｅｃｈｎｉｃｓ，２００７  ＩＥＥＥｇｕｉｄｅｏｎｅｌｅｃｔｒｏｓｔａｔｉｃｄｉｓｃｈａｒｇｅ（ＥＳＤ）：Ｃｈａｒａｃｔｅｒｉｚａｔｉｏｎｏｆ
             （４）：２６－３０．                                          ｔｈｅＥＳＤ ｅｎｖｉｒｏｎｍｅｎｔ［Ｓ］．１９９２．
          ［６］ＷｉｌｓｏｎＭ Ｊ．Ｐｒｏｊｅｃｔｅｄｒｅｓｐｏｎｓｅｏｆｔｙｐｉｃａｌｄｅｔｏｎａｔｏｒｓｔｏｅｌｅｃｔｒｏ  ［１３］DE F． 0 1 2 . î Š q ［Ｍ］．G H：G H q 1 Š ´ > I J，
             ｓｔａｔｉｃｄｉｓｃｈａｒｇｅ（ＥＳＤ） ｅｎｖｉｒｏｎｍｅｎｔｓ［Ｒ］．ＵＣＲＬＩＤ１４５６４２，  １９９９：２２７－２２９．
             ２００２．                                               ＣＡＩＲｕｉｊｉａｏ．Ｉｎｉｔｉａｔｏｒｓａｎｄｐｙｐｏｔｅｃｈｎｉｃｓｄｅｓｉｇｎｉｎｇｔｈｅｏｒｙ．Ｂｅｉ
          ［７］ＴｓｕｙｏｓｈｉＴａｋａｄａ，ＴａｄａｔｏｓｈｉＳｅｋｉｎｅ，ＨｉｄｅｋｉＡｓａｉ．Ｈｙｂｒｉｄｓｉｍｕｌａ  ｊｉｎｇ：ＢｅｉｊｉｎｇＩｎｓｉｔｉｔｕｄｅｏｆＴｅｃｈｎｏｌｏｇｙＰｒｅｓｓ，１９９９：２２７－２２９．
             ｔｉｏｎｏｆＥＳＤ ｅｖｅｎｔｓｂｙＳＰＩＣＥｌｉｋｅａｎｄｆｉｎｉｔｅｄｉｆｆｅｒｅｎｃｅｔｉｍｅｄｏ  ［１４］.ªK，LM．µ! ＰＳｐｉｃｅ <N/OC/¯]^_`［Ｊ］．N/
             ｍａｉｎｍｅｔｈｏｄｓ［Ｃ］ ∥ ２０１３ ＩＥＥＥＥｌｅｃｔｒｉｃａｌＤｅｓｉｇｎｏｆＡｄｖａｎｃｅｄ  œ>L，２０１２，２７（５）：６９－７６．
             Ｐａｃｋａｇｉｎｇ＆ＳｙｓｔｅｍｓＳｙｍｐｏｓｉｕｍ （ＥＤＡＰＳ），２０１３，Ｎａｒａ，Ｊａｐａｎ．  ＺＨＡＮＧ Ｚｈｅｎｇｍａｏ，ＨＵ Ｘｉｎ．Ｓｉｍｕｌａｔｉｏｎａｎｄａｎａｌｙｓｉｓｏｆｅｌｅｃ
             １９７－２００．                                            ｔｒｏｏｐｔｉｃａｌｄｅｔｅｃｔｉｏｎｃｉｒｃｕｉｔｂａｓｅｄｏｎＰＳｐｉｃｅ［Ｊ］．Ｅｌｅｃｔｒｏｏｐｔｉｃ
          ［８］ＭｅｎｇＫｕｏｈｓｕａｎ， Ｒｏｓｅｎｂａｕｍ Ｅｌｙｓｅ． Ｖｅｒｉｆｉｃａｔｉｏｎ ｏｆｓｎａｐｂａｃｋ  ＴｅｃｈｎｏｌｏｇｙＡｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ，２０１２，２７（５）：６９－７６．
             ｍｏｄｅｌｂｙｔｒａｎｓｉｅｎｔＩＶｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｆｏｒｃｉｒｃｕｉｔｓｉｍｕｌａｔｉｏｎｏｆＥＳＤ  ［１５］ＩＥＥＥＳｔａｎｄａｒｄｓＢｏａｒｄ．ＩＥＥＥＳｔｄＣ６２．３８－１９９４．ＩＥＥＥｇｕｉｄｅｏｎｅ
             ｒｅｓｐｏｎｓｅ［Ｊ］．ＩＥＥＥＴｒａｎｓａｃｔｉｏｎｓＯｎＤｅｖｉｃｅａｎｄＭａｔｅｒｉａｌｓＲｅｌｉａ  ｌｅｃｔｒｏｓｔａｔｉｃｄｉｓｃｈａｒｇｅ（ＥＳＤ）：ＥＳＤ ｗｉｔｈｓｔａｎｄｃａｐａｂｉｌｉｔｙｅｖａｌｕａ
             ｂｉｌｉｔｙ，２０１３，１３（２）：３７１－３７８．                          ｔｉｏｎｍｅｔｈｏｄｓ（ｆｏｒＥｌｅｃｔｒｏｎｉｃＥｑｕｉｐｍｅｎｔＳｕｂａｓｓｅｍｂｌｉｅｓ） ［Ｓ］．
         ［９］N¿³´œ18BCU．ＧＪＢ５３０９．１４－２００４．012rYï                   １９９４．
             ðd １４]_：8/:/rY［Ｓ］．２００４．                         ［１６］PQR．ͬ¨›´m1S´ ［Ｍ］．G H：G H q 1 Š ´ > I
             ＣｏｍｍｉｓｓｉｏｎｏｆＳｃｉｅｎｃｅＴｅｃｈｎｏｌｏｇｙａｎｄＩｎｄｕｓｔｒｙｆｏｒＮａｔｉｏｎａｌＤｅ  J，２００４：２３２－２３８．
             ｆｅｎｓｅ．ＧＪＢ５３０９．１４－２００４．Ｔｅｓｔｍｅｔｈｏｄｓｏｆｉｎｉｔｉａｔｉｎｇｅｘｐｌｏｓｉｖｅ  ＬＡＯ Ｙｕｎｌｉａｏ．Ｃｈｅｍｉｓｔｒｙａｎｄｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙｏｆｐｒｉｍａｒｙｅｘｐｌｏｓｉｖｅ
             ｄｅｖｉｃｅｓＰａｒｔ１４：Ｅｌｅｃｔｒｏｓｔａｔｉｃｄｉｓｃｈａｒｇｅｔｅｓｔ［Ｓ］．２００４．  ［Ｍ］．Ｂｅｉｊｉｎｇ：ＢｅｉｊｉｎｇＩｎｓｉｔｉｔｕｄｅｏｆＴｅｃｈｎｏｌｏｇｙＰｒｅｓｓ，２００４：２３２
         ［１０］ＵｎｉｔｅｄＳｔａｔｅｓＤｅｐａｒｔｍｅｎｔｏｆＤｅｆｅｎｓｅ．ＭＩＬＳＴＤ３３１Ｃ．Ｄｅｐａｒｔ  －２３８．
             ｍｅｎｔｏｆｄｅｆｅｎｓｅｔｅｓｔｍｅｔｈｏｄｓｔａｎｄａｒｄ：Ｆｕｚｅａｎｄｆｕｚｅｃｏｍｐｏ



         ＥｌｅｃｔｒｏｓｔａｔｉｃＨａｚａｒｄＰｒｅｄｉｃｔｉｏｎｏｆＢｒｉｄｇｅＷｉｒｅＥｌｅｃｔｒｏＥｘｐｌｏｓｉｖｅＤｅｖｉｃｅＢａｓｅｄｏｎｔｈｅＣｉｒｃｕｉｔＳｉｍｕｌａｔｉｏｎ


                     １
                               ２
                                              １
         ＹＵＨｏｎｇｙｕａｎ，ＹＡＮ Ｎａｎ，ＣＨＥＮ Ｓｈｕｘｉａｏ ，ＷＡＮＧ Ｈｏｎｇｂｏ      １
         （１．ＭｉｌｉｔａｒｙＯｐｅｒａｔｉｏｎｓＲｅｓｅａｒｃｈＣｅｎｔｅｒ，ＳｈｉｊｉａｚｈｕａｎｇＡｒｍｙＣｏｍｍａｎｄＣｏｌｌｅｇｅ，Ｓｈｉｊｉａｚｈｕａｎｇ０５００８４，Ｃｈｉｎａ；２．ＳｔａｔｅＫｅｙＬａｂｏｒａｔｏｒｙｏｆＥｘｐｌｏｓｉｏｎＳｃｉｅｎｃｅａｎｄ
         Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ，ＢｅｉｊｉｎｇＩｎｓｔｉｔｕｔｅｏｆＴｅｃｈｎｏｌｏｇｙ，Ｂｅｉｊｉｎｇ１０００８１，Ｃｈｉｎａ）
         Ａｂｓｔｒａｃｔ：Ｔｈｅｒｅｓｐｏｎｓｅｒｅｇｕｌａｔｉｏｎｓｏｆｅｌｅｃｔｒｏｓｔａｔｉｃｄｉｓｃｈａｒｇｅ（ＥＳＤ）ｃｏｎｄｉｔｉｏｎｓｆｏｒｆｉｒｉｎｇｄｅｖｉｃｅｍａｔｅｒｉａｌｓｏｆａｎｅｌｅｃｔｒｉｃｅｘｐｌｏｓｉｖｅ
         ｄｅｖｉｃｅ（ＥＥＤ）ａｎｄｉｔｓｄａｍａｇｅｓｕｎｄｅｒａｎｅｌｅｃｔｒｏｓｔａｔｉｃｅｎｖｉｒｏｎｍｅｎｔｗｅｒｅｓｔｕｄｉｅｄ．ＴｈｅＥＳＤ ｐｒｏｃｅｓｓｆｏｒｄｉｓｃｈａｒｇｅｍｏｄｅｌｓｕｎｄｅｒｄｉｆ
         ｆｅｒｅｎｔｈｉｇｈｓｔａｔｉｃｖｏｌｔａｇｅｃｏｎｄｉｔｉｏｎｓｗａｓｓｉｍｕｌａｔｅｄａｎｄａｎａｌｙｚｅｄｂｙｔｈｅＥＳＤ ｍｏｄｅｌｓｆｒｏｍ ＩｎｓｔｉｔｕｔｅｏｆＥｌｅｃｔｒｉｃａｌａｎｄＥｌｅｃｔｒｏｎｉｃＥｎｇｉ
         ｎｅｅｒｓ（ＩＥＥＥ）ｓｔａｎｄａｒｄａｎｄＳａｎｄｉａｌａｂｏｒａｔｏｒｙｓｔａｎｄａｒｄ．Ｅｎｅｒｇｙｖａｌｕｅｓｐｒｏｄｕｃｅｄｂｙｄｉｓｃｈａｒｇｅｗｅｒｅｄｅｔｅｒｍｉｎｅｄａｎｄｃｏｍｐａｒｅｄａｎｄ
         ａｎａｌｙｚｅｄｗｉｔｈｔｈｏｓｅｏｆｐｈｙｓｉｃａｌｆｏｒｍ ｔｒａｎｓｆｏｒｍａｔｉｏｎｐｒｏｐｅｒｔｙｏｆｆｉｒｉｎｇｍａｔｅｒｉａｌｓｉｎａｔｙｐｉｃａｌＥＥＤ．ＴｈｅｄａｍａｇｅｓｉｔｕａｔｉｏｎｏｆＥＳＤ ｔｏａ
         ｔｙｐｉｃａｌＥＥＤ ｗａｓｐｒｅｄｉｃｔｅｄ．Ｒｅｓｕｌｔｓｓｈｏｗ ｔｈａｔｐｅａｋｄｉｓｃｈａｒｇｅｃｕｒｒｅｎｔｉｎｃｒｅａｓｅｓｗｉｔｈｉｎｃｒｅａｓｉｎｇｔｈｅｉｎｉｔｉａｌｅｌｅｃｔｒｏｓｔａｔｉｃｖｏｌｔａｇｅ，ｗｈｉｌｅ
         ｔｈｅｏｔｈｅｒｐａｒａｍｅｔｅｒｓｏｆｃｕｒｒｅｎｔｗａｖｅｆｏｒｍ ｕｎｃｈａｎｇｅｓ．ＦｏｒａｔｙｐｉｃａｌｆｉｒｉｎｇｄｅｖｉｃｅｃｏｎｓｉｓｔｉｎｇｏｆＮｉＣｒｂｒｉｄｇｅｗｉｒｅｗｉｔｈａｄｉａｍｅｔｅｒｏｆ
         ４０μ ｍ ａｎｄｌｅａｄｓｔｙｐｈｎａｔ，ｔｈｅｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅｉｎｂｒｉｄｇｅｗｉｒｅｃａｎｒｅａｃｈｔｈｅｍｅｌｔｉｎｇｐｏｉｎｔｏｆｔｉｎｓｏｌｄｅｒ，ｄｅｃｏｍｐｏｓｉｔｉｏｎａｎｄｉｇｎｉｔｉｏｎ
         ｐｏｉｎｔｓｏｆｅｘｐｌｏｓｉｖｅａｔｔｈｅｉｎｉｔｉａｌｖｏｌｔａｇｅｏｆ２０ｋＶ，ｍａｋｉｎｇｂｒｉｄｇｅｗｉｒｅｆｕｓｅａｔ４０ｋＶｉｎＩＥＥＥｓｔａｎｄａｒｄ．ＥＳＤ ｍｏｄｅｌ；ｗｈｉｌｅｉｎＳａｎｄｉａ
         ｌａｂｏｒａｔｏｒｙｓｔａｎｄａｒｄＥＳＤ ｍｏｄｅｌ，ｔｈｅｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅｉｎｂｒｉｄｇｅｗｉｒｅｃａｎｒｅａｃｈｔｈｅｍｅｌｔｉｎｇｐｏｉｎｔｏｆｔｉｎｓｏｌｄｅｒａｔ２０ｋＶ，ｄｅｃｏｍｐｏｓｉｔｉｏｎ
         ａｎｄｉｇｎｉｔｉｏｎｐｏｉｎｔｓｏｆｅｘｐｌｏｓｉｖｅａｔ２５ｋＶａｎｄｍｅｌｔｉｎｇｐｏｉｎｔｏｆｂｒｉｄｇｅｗｉｒｅａｔ５０ｋＶ．
         Ｋｅｙｗｏｒｄｓ：ｅｌｅｃｔｒｏｓｔａｔｉｃｄｉｓｃｈａｒｇｅ（ＥＳＤ）ｃｉｒｃｕｉｔｍｏｄｅｌ；ｃｉｒｃｕｉｔｓｉｍｕｌａｔｉｏｎ；ｄａｍａｇｅｓｏｆＥＥＤｓ
         ＣＬＣｎｕｍｂｅｒ：ＴＪ４５０．１               Ｄｏｃｕｍｅｎｔｃｏｄｅ：Ａ                ＤＯＩ：１０．１１９４３／ｊ．ｉｓｓｎ．１００６９９４１．２０１５．０７．０１４


















         ＣＨＩＮＥＳＥＪＯＵＲＮＡＬＯＦＥＮＥＲＧＥＴＩＣＭＡＴＥＲＩＡＬＳ                  !"#$               ２０１５% & ２３' & ７( （６８２－６８７）
   176   177   178   179   180   181   182   183   184   185   186